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四象限電源IV曲線掃描數字源表
武漢普賽斯一直專注于半導體的電性能測試儀表開發,基于核心算法和系統集成等技術平臺優勢,率先自主研發了高精度數字源表、脈沖式
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2025-06-18 |
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電流傳感器階躍響應測試高電流脈沖電源
電流傳感器階躍響應測試高電流脈沖電源特點 50μs-500μs的脈沖寬度連續可調 15μs超快上升沿（典型時間） 兩路同步測量電壓0.3m
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2025-06-18 |
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1200V半導體參數分析儀CV+IV測試儀
概述：SPA-6100半導體參數分析儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈
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2025-06-13 |
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半導體特性測試儀IV曲線掃描儀
分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器
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2025-06-13 |
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功率器件分析儀igbt模塊測試設備
IGBT靜態參數測試系統簡介普賽斯PMST功率器件靜態參數測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（
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2025-06-13 |
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霍爾傳感器響應時間測試大電流源
HCPL100特點和優勢：50~500us的脈沖寬度連續可調；15us的超快上升沿；同步測量電壓；單臺蕞大可達1000A輸出；可極性反轉；0.1%測
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2025-06-13 |
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功率半導體參數測試儀1700V/1000A
PMST系列功率半導體參數測試儀1700V/1000A是武漢普賽斯正向設計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統，是一款能夠提供IV、 C
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2025-06-13 |
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igbt靜態測試設備and參數分析儀
SiC/IGBT功率半導體器件主要測試參數近年來IGBT成為電力電子領域中尤為矚目的電力電子器件,并得到越來越廣泛的應用,那么IGBT的測
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2025-06-13 |
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半導體器件測試儀iv曲線儀
半導體分立器件根據基材不同,可分為不同類型。以硅基半導體為基材時,半導體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管
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2025-06-13 |
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高校實驗教學IV性能分析數字源表
高校實驗教學IV性能分析數字源表認準普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務與技術
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2025-06-13 |
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wat半導體參數測試設備+晶圓片檢測儀
wat半導體參數測試設備+晶圓片檢測儀認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S
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2025-06-13 |
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IC芯片電特性測試數字源表
集成電路測試貫穿了從設計、生產到實際應用的全過程，大致分為： - 設計階段的設計驗證測試 - 晶圓制造階段的工藝監控測試 - 封
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2025-06-13 |
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電流脈沖電源1μs窄脈寬
PL系列窄脈沖LV測試系統是為大功率激光器LV測試而研制的，大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時發熱嚴重，而激光器特性受溫度影
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2025-06-13 |
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晶圓/芯片微弱電流測試VI源表
晶圓/芯片微弱電流測試VI源表認準生產廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服
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2025-06-13 |
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SiC GaN三代半功率器件參數分析儀
功率半導體應用現狀 隨著新能源汽車800V高壓快充技術的興起，SiC憑借其高熱導率、高擊穿場強、高飽和電子漂移速率以及高鍵合能等
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2025-06-13 |
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微電流iv曲線掃描國產數字源表
詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務與技術支持，普賽斯儀表是
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2025-06-13 |
